Microscope à force atomique (AFM) 12.00 / 20

Rapport de physique, niveau Bac+5, TP sur le Microsocope à force atomique et l'AFM

Extrait:
Grâce à la figure 1, nous observons que la pointe du microscope balaye l'échantillon selon l'axe x pendant qu'elle se déplace lentement suivant l'axe y afin de couvrir toute la surface. On utilise la même céramique donc le couplage est impossible à éviter, c'est pourquoi on a une oscillation (minime voir figure 1, mais existante) de Y. Ce qu'il faut en fait observer sur le signal Y, c'est l'augmentation linéaire ou la diminution (voir figure 2).
La courbe de déflection de la figure 3, permet de détecté l'état de surface de l'échantillon. Afin d'éviter que la micro-poutre ne cède à de fortes pressions, une commande est envoyé afin de déplacer la tête de lecture sur l'axe z.
La courbe triangulaire (figure 4) est due à l'angle existant entre la surface de l'échantillon et la surface de déplacement de la pointe (X-slope dans le logiciel). Z augmente et diminue à chaque aller-retour sur l'échantillon.
Le signal d'approche est un signal carré (figure 5). A l'état 1 pour faire descendre la tête de lecture et revient à l'état 0 lorsqu'il y a contact entre la pointe et l'échantillon. [...]

Plan:

• Prise en main du microscope : imagerie d'un réseau
• Application à l'imagerie biomédicale
• Courbe d'approche-retrait en mode contact