Microscope à force atomique (AFM)

Microscope à force atomique (AFM)

12.00 / 20
Publié le 9 févr. 2009 - Donne ton avis

Rapport de physique, niveau Bac+5, TP sur le Microsocope à force atomique et l'AFM

Extrait:
Grâce à la figure 1, nous observons que la pointe du microscope balaye l'échantillon selon l'axe x pendant qu'elle se déplace lentement suivant l'axe y afin de couvrir toute la surface. On utilise la même céramique donc le couplage est impossible à éviter, c'est pourquoi on a une oscillation (minime voir figure 1, mais existante) de Y. Ce qu'il faut en fait observer sur le signal Y, c'est l'augmentation linéaire ou la diminution (voir figure 2).
La courbe de déflection de la figure 3, permet de détecté l'état de surface de l'échantillon. Afin d'éviter que la micro-poutre ne cède à de fortes pressions, une commande est envoyé afin de déplacer la tête de lecture sur l'axe z.
La courbe triangulaire (figure 4) est due à l'angle existant entre la surface de l'échantillon et la surface de déplacement de la pointe (X-slope dans le logiciel). Z augmente et diminue à chaque aller-retour sur l'échantillon.
Le signal d'approche est un signal carré (figure 5). A l'état 1 pour faire descendre la tête de lecture et revient à l'état 0 lorsqu'il y a contact entre la pointe et l'échantillon. [...]


Plan:

  • Prise en main du microscope : imagerie d'un réseau
  • Application à l'imagerie biomédicale
  • Courbe d'approche-retrait en mode contact
Photo de profil de GoToon
Fiche rédigée par
GoToon
42 téléchargements

Ce document est-il utile ?

12 / 20

2 commentaires


dadou93
dadou93
Posté le 1 juin 2015

c vague

firecounter
firecounter
Posté le 21 mars 2010

2 pages nulles

Il faut être inscrit pour télécharger un document

Crée un compte gratuit pour télécharger ce document

Je m'inscrisOU

J'ai déjà un compte

Je me connecte